蔡司GeminiSEM：低电压亚纳米成像，样品无损

蔡司 GeminiSEM 系列

用于任意样品进行亚纳米级低电压成像的场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 系列的产品, 能够使亚纳米分辨成像轻松达成, 并且探测效率极高。

GeminiSEM 500把成熟的Gemini技术与其实现革新的光学设计进行了完美结合, 使成像分辨率得到了全面提升, 特别是在低电压的情况下。通过其具备20倍增强效果的Inlens信号, 您能够迅速地取得清晰图像, 并且将样品损伤降低到zei低程度。GeminiSEM系列产品全新的可变压力模式, 能让您产生在高真空环境下成像的感受。

给您的研究, 或者工业实验室, 又或者成像平台, 增添一台具备灵活性、可靠性的场发射扫描电子显微镜。借助GeminiSEM系列产品, 去获取真实世界里任何样品的优秀图像。

更简单、更智能、更高度集成

在低电压下获取更丰富的细节信息

GeminiSEM 500 在低电压下有非常高的分辨率。

那种成熟的 Gemini 技术, 将成像时间给缩短了, 使得您能够在具有低加速电压的情况下, 轻轻松松地凭借高衬度图像去解析亚纳米级结构信息。在 500 V 电压之时, 要是不借助电子束减速技术, 便能够获取到有着 1.2 nm 分辨率的出色图像。

在一千伏电压的情形下, 达成一点一纳米分辨率成像。或者运用串联减速功能达成电子速减速, 获取甚至高达零点九纳米的图像分辨率。

一切都取决于您。

随时提供更强的信号

这一点意味着全部有效信号在图像分辨率之中, 这就是GeminiSEM 500大大提高检测效率的原因, 新的物镜设计把Inlens二次电子信号增强了20倍, 是与传统扫描电子显微镜相比较而言的。

透过针对那极为合适的部分电子信号展开检测, 这般您就能够获取到样品所具备的极为丰富的信息。依据具体的用以规范实验进程的需求状况, 能够凭借这一具备突出特点与优势的条件, 明显地将成像所需要耗费的时间予以缩短, 或者采用更低的电流数值, 以此来防止样品遭受损伤。

可变压力使其更具灵活性

GeminiSEM系列产品具备可变压力（VP）模式, 此模式能让您产生一种身处于高真空环境下工作的感受。如今, 您可以首次在压力高达150 Pa的情况下, 运用二次电子以及背散射电子, 以高分辨率、高衬度还有高信噪比来进行Inlens检测。即便对于要求最为苛刻的非导电样品, 也能够获取清晰图像。

基于成熟的 Gemini 技术

GeminiSEM系列的产品, 是基于成熟的Gemini技术, 这项技术运用的时间已经超过20年了, 它有着完整且高效的探测系统, 具备出色的分辨率,还有易用性等特点。

Gemini物镜设计开云正版app下载开云手机入口app下载, 把静电场跟磁场给结合到一块了, 在使得光学性能达到最大化的情形下, 把它们针对样品所产生的影响降低到最低程度。

这般一来, 哪怕是那种要求颇具严苛性的样品, 就像磁性材料这类, 也能够达成高品质成像。于同时对二次电子, 也就是 SE, 以及背散射电子, 也就是 BSE, 展开探测之际, Gemini 的设计原理切实保障了高效的信号检测。Inlens 探测器被安置于光轴之上,所以减少了重新校准的相关操作开云app官方入口网站, 并且把成像时间缩短至zei短。Gemini 电子束推进器技术能够确保在极为低的加速电压状况下获取小束斑以及高信噪比。此外, 它有这样的功能, 它能借着让束流处在高电压状况下, 使之通过镜筒, 之后最终减速到设定的电压, 接着进入样品舱, 以此能够最大限度地降少外在杂散磁场对系统所产生的影响。

更丰富的细节信息、 更强的信号

GeminiSEM 500运用增强型电子光学设计, 于低电压状况下具备亚纳米级分辨率, 达成更卓越的信号检测效率。新设计出的纳米双镜头借助优化几何结构以及静电场与磁场的分布, 进一步提升低电压、超低电压下的分辨率。与此同时, Inlens探测器的信号在低电压成像情形下增大了20倍。在高分辨率电子枪模式中, 电子束色差减小, 进而实现更小的束斑。在串联减速模式里, 能够对样品施加减速电压。采取其来进一步提高电压低于1 kV的分辨率, 并且加大背散射二级管探测器检测效率。经过改进的含样品室背散射电子探测器（BSD）和透射电子探测器在低加速电压时具备更高效率, 而且能够达成快速成像。环形STEM（a STEM）探测器拥有极大灵活性, 可用所有观察方式开展透射光成像, 甚至能利用多通道同步成像。

更丰富的细节信息、 更具灵活性

NanoVP技术是用以减少非导电样品表面荷电的最佳办法, 进而不会对Inlens探测器的检测性能以及分辨率造成影响, 于物镜下部放入压差光阑, 极大程度缩短在气体里入射束流的路径长度促使此举能够减小束斑扩散, 达成高分辨率成像, 并且在压力高达150 Pa时开展Inlens检测, 所以您能够于可变压力模式下同时运用Inlens探测器与EsB探测器来进行达到高分辨率的材料表面以及成份衬度成像。有了样品室VPSE探测器, 借助它, 甚至在500 Pa的情况下, 都能够达成成像的效果, 有这样的作用。

标签： GeminiSEM 低电压成像 亚纳米分辨率 样品无损 可变压力模式